一种便携式VDMOS单粒子试验测试系统

作者:魏亚峰[1];滕丽[1];温显超[1];俞宙[2] 刊名:太赫兹科学与电子信息学报 上传者:杜能强

【摘要】设计了一种在线测试系统,用于监测垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管(VDMOS)器件在单粒子试验中的单粒子效应。简述了实验原理,从偏置设计与波形获取及仪器控制与远程监测多个方面详细论述了测试系统的硬件结构;给出了软件的设计流程及测试系统的操作界面。最后应用该自动测试系统开展了试验,结果表面该系统稳定可靠,便携易用。

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第14卷 第5期 太赫兹科学与电子信息学报 Vo1.14,No.5 2016 年 10 月 Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology Oct.,2016 文章编号:2095-4980(2016)05-0816-05 一种便携式 VDMOS 单粒子试验测试系统 魏亚峰 1,滕 丽 1,温显超 1,俞 宙 2 (1.中国电子科技集团公司 第 24 研究所,重庆 400060;2.模拟集成电路重点实验室,重庆 400060) 摘 要:设计了一种在线测试系统,用于监测垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管(VDMOS)器件在单粒子试验中的单粒子效应。简述了实验原理,从偏置设计与波形获取及仪器控制与远程监测多个方面详细论述了测试系统的硬件结构;给出了软件的设计流程及测试系统的操作界面。最后应用该自动测试系统开展了试验,结果表面该系统稳定可靠,便携易用。 关键词:垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管;单粒子效应;单粒子烧毁;测试系统 中图分类号:TN386 文献标识码:A doi:10.11805/TKYDA201605.0816 A portable test system of VDMOS SEE WEI Yafeng1,TENG Li1,WEN Xianchao1,YU Zhou2 (1.Sichuan Insitute of Solid-State Circuits,China Electronics Technology Group Corp.,Chongqing 400060,China; 2.Science Technology on Analog Integrated Circuit Laboratory,Chongqing 400060,China) Abstract:One online test system is designed to monitor Single Event Effect(SEE) of Vertical Double-diffusion Metal Oxide Semiconductor(VDMOS) Field Effect Transistor(FET) device. The hardware structure of the test system is described in detail from the aspects of the design of the offset, the acquisition of the waveform, the control and the remote monitoring after briefly introducing the experimental principle. Then the design flow of the software and the operating interface of the test system are given. In the end, experiment is completed by using the automatic test system, and the results are obtained. It is proved that the system is stable, reliable, portable and easy to use. Key words:Vertical Dou

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