薄膜X射线测厚仪(无全文)

作者:靳其兵;江晶 刊名:仪表技术与传感器 上传者:

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【摘要】介绍了以西门子PLC(可编程控制器)用于薄膜测厚的全自动往复式X射线测厚仪的研制,介绍了该测厚仪的硬件构成和测厚的工作原理。该装置已成功应用在双向拉伸聚丙烯薄膜生产线上。

参考文献

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